上海菁華 752自動波長紫外可見分光光度計詳細(xì)介紹：

儀器自檢過程：

儀器接通電源后，進(jìn)入自檢狀態(tài)，儀器會將自檢狀態(tài)分別顯示在顯示器上。當(dāng)顯示器上顯示“546.0nm 0.00XA"時，儀器自檢完畢進(jìn)入測試狀態(tài)。顯示器顯示儀器各部分自檢項目的過程及符號如下：

注：若上次在非測試狀態(tài)關(guān)機儀器將跳過此步驟直接進(jìn)入自檢狀態(tài)。

UV PHOTOMETER 紫外可見分光光度計

VIS PHOTOMETER 可見分光光度計

SELFTEST?:IC CHECK 00XX 芯片自檢

SELFTEST?:EXCH 光源切換位置自檢(紫外儀器有此顯示)

SELFTEST?:FILTER 濾光片位置自檢

Initialize Mac? 1.Yes 0.No 是否初始化? 1是,0否

SELFTEST?:FIND 0nm 波長限位位置自檢及尋找0級光

SELFTEST?:FIND XXXnm 尋找特征譜線

546.0nm BLANK? 調(diào)“ T/0A"

546.0nm ZERO? 調(diào)“0%T"

546.0nm BLANK? 調(diào)“ T/0A"

546.0nm 0.00XA 自檢完畢進(jìn)入測試狀態(tài)

功能說明：Initialize Mac? 1.Yes 0.No

注：若上次在非測試狀態(tài)關(guān)機儀器將跳過此步驟直接進(jìn)入自檢狀態(tài)。

上海菁華 752自動波長紫外可見分光光度計功能特性：

1200L/mm紫外光柵，C-T單色器結(jié)構(gòu)。

樣品室可擴展至10cm樣品架。

自動設(shè)置波長，自動調(diào)0%T/ T，T/A轉(zhuǎn)換。

具有自動修正波長誤差、光源自動切換等功能。

儀器具有光度、定量等功能。

采用低雜散光、高分辨率的光柵型單光束光路結(jié)構(gòu)，具有良好的穩(wěn)定性，重現(xiàn)性，光度線性和準(zhǔn)確的測量讀數(shù)。更小的光譜帶寬可滿足常規(guī)分析測試項目的要求。

采用優(yōu)化設(shè)計和微處理技術(shù)，使儀器具有波長自動設(shè)置、光源自動切換位置、波長自動校正，具有自動調(diào)0%T和100T，氘燈和鎢燈開關(guān)自動控制等控制功能，以及T、A、C、F等測試方式。

主機具有光度測試功能（固定波長下測試吸光度或透射比值），具有定量測試功能，采用標(biāo)準(zhǔn)品對照法、標(biāo)準(zhǔn)系數(shù)法和線性回歸分析法（顯示屏顯示一元線性回歸方程及相關(guān)系數(shù)）來直接測定待測樣品的濃度，此外還可以存儲、調(diào)用、刪除線性回歸方程。

LCD數(shù)字顯示器可清晰顯示透射比、吸光度和濃度等參數(shù)，提高儀器的讀數(shù)準(zhǔn)確性。

配有標(biāo)準(zhǔn)RS-232通訊接口的型號，可以連接計算機運行用戶應(yīng)用軟件，具有光度測試（T、A）、定量測試（C、F）及時間掃描及光譜掃描等應(yīng)用功能，可進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、保存和調(diào)用。

性能指標(biāo)：

波長驅(qū)動：自動

光譜帶寬：4nm

波長范圍：190~1100nm

波長準(zhǔn)確度：±1nm

波長重復(fù)性：0.5nm

透射比準(zhǔn)確度：≤0.3%T

透射比重復(fù)性：0.1%T

透射比范圍：0~200%T

吸光度范圍：-0.4~4A

濃度顯示范圍：0~99999

雜散光：≤0.1%T

穩(wěn)定性：±0.001A/h

噪聲：0.0005A

輸出接口：RS-232

控制面板

1.顯示屏可顯示儀器當(dāng)前的波長位置、透射比、吸光度、濃度及其它功能。

2.測試模式鍵按動此鍵便可切換測試模式：A吸光度、T透射比、C濃度。

3.調(diào) T/0A鍵在A模式時，按動此鍵可自動調(diào)0A，在T模式時，按動此鍵可自動調(diào) T。

4.調(diào)0%T鍵按動此鍵，顯示屏顯示ZERO?，儀器便自動調(diào)“0%T"。

5.打印鍵按動此鍵可將測試數(shù)據(jù)通過RS232輸送給外接打印機打印。

6.功能鍵按動此鍵循環(huán)顯示儀器各項功能

7.退出鍵按動此鍵即退出當(dāng)前功能。

8.清除鍵按動此鍵即將當(dāng)前設(shè)置清除。

9.確認(rèn)鍵按動此鍵即確認(rèn)當(dāng)前設(shè)置有效。

10.數(shù)字鍵供設(shè)定參數(shù)時用

11.上下三角形鍵，在T、A測試模式時，按動上鍵波長自動遞增，按動下鍵波長自動遞減；在Load Curve 測試模式時，可選擇No.X線性回歸方程。